迅速測定ppm級的有害金屬！
應對WEEE & RoHS、ELV等有害物質相關法規。
應對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規和指令，保證產品和用料的綠色環保。

Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對產生的熒光Ｘ射線的能量進行檢測，測定構成樣品的元素種類及含量的裝置。可無損地進行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應用于各個領域。特別是最近，以歐盟的報廢電子電氣設備指令（WEEE）、電子電氣設備所含特定有害物質限制使用指令（RoHS）、報廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規為代表的綠色采購及環境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求，暢銷全球的EDX系列達到了更高的靈敏度與精度。

測定原理     X射線熒光分析法

測定方法      能量色散型

測定對象      固體、液體、粉狀

測定范圍      13Ai~92U

樣品室尺寸     最大W370*D320*H155mm

迅速測定ppm級的有害金屬！
應對WEEE & RoHS、ELV等有害物質相關法規。
應對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規和指令，保證產品和用料的綠色環保。