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今天瑞盛科技的小編給大家介紹的是關于X射線熒光光譜儀的物理原理以及化學分析，希望大家在閱讀下述內容介紹的過程當中，能夠有所幫助，那么接下來就跟著小編一起來看下吧。
X射線熒光光譜儀的物理原理：
當材料暴露在短波長X光檢查，或者伽馬射線，它的組成原子也許會發生電離，假如原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，但是這會使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，為了填補遺留下來的洞。在“回補”的過程當中會釋放出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。所以，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性。
X射線熒光光譜儀的化學分析：
主要使用X射線束激發熒光輻射，第一次是在一九二八年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，這種方法作為非破壞性分析技術，并且作為過程控制的工具，普遍使用于采掘還有加工工業。原則上，最輕的元素，可以分析出鈹（z=4），可是因為儀器的局限性還有輕元素的低X射線產量，通常難以量化，因此針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，能夠分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。
綜上所述便是深圳市瑞盛科技有限公司的小編給大家介紹的全部內容，更多精彩資訊歡迎下期看點。
