比表面分析儀廣泛用于大多數材料，但對于具有 II 型或 IV 型等溫線且吸附氣體與表面之間具有足夠水平相互作用的材料最可靠。對于具有其他類型等溫線的材料，由于各種原因，比表面分析儀不太適合此類材料的分析。 


      比表面分析儀分析之前，必須對樣品進行預處理，以在稱為脫氣或除氣的過程中從粉末表面去除物理結合的雜質。這通常是通過在真空或連續流動的惰性氣體下對樣品施加高溫來實現的。為了產生最準確和可重復的結果，必須仔細控制和監測這個過程。


      然后通過在低溫下將氣體物理吸附到樣品表面來確定材料的比表面積。要使用的氣體的選擇取決于預期的表面積和樣品的特性。一旦測量了吸附氣體的量，就應用假定已知氣體的單分子層的計算。 


      比表面分析儀也可以用每體積樣品的面積單位（m 2 /cm 3）來表示。該值稱為體積比表面積，通過將 BET 表面積乘以材料密度獲得。根據 2011 年歐盟委員會關于納米材料定義的建議，以識別潛在納米材料以及材料的粒徑分布。


    瑞盛科技的實驗室配備了能夠使用兩種吸附技術的儀器，并且我們擁有使用最合適的氣體和程序提供精心執行的表面積分析的技術專長。體積分析可以在內部進行擴展，以提供有關材料孔隙率的信息。