憑借 50 多年的創新和領先地位，賽默飛世爾科技的XPS 表面分析儀器使客戶能夠找到有意義的問題答案，從而加速突破性發現、提高生產力并最終改變世界。對于表面和薄膜結構的分析，我們的 XPS 光譜儀系列具有高性能、易于自動化操作以及適用于材料科學和研發實驗室的多技術集成。


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Thermo Scientific? Nexsa? 表面分析系統是一種高性能 X 射線光電子能譜儀，旨在集成其他分析技術，同時保持高通量工作流程。憑借 Thermo Scientific? MAGCIS? 雙模式離子源和 Thermo Scientific? iXR? 拉曼光譜儀等獨特選項，Nexsa 系統已準備好應對最棘手的表面分析問題。


Thermo Scientific? ESCALAB Xi + ? XPS Microprobe是一種高性能 X 射線光電子能譜儀，旨在集成其他分析技術和高級樣品制備選項。憑借出色的能量分辨率、Thermo Scientific MAGCIS 雙模式離子源和快速 XPS 成像等選項，ESCALAB Xi +已為您的研究做好準備！


Thermo Scientific? K-Alpha? XPS 系統是一種高性能 X 射線光電子能譜儀，其設計易于使用且速度快，適用于高通量工作流程。K-Alpha 配備了 XPS 分析所需的一切，包括用于深度分析的離子源。