X射線熒光光譜儀是一種X射線儀器，用于巖石、礦物、沉積物和流體的常規和相對無損的化學分析。x射線熒光光譜儀為測定各種材料的化學成分提供了最簡單、最準確、最經濟的分析方法。它無損可靠，不需要或很少需要制樣，適用于固體、液體和粉末樣品。樣品中的每一種元素都會產生一組特有的熒光X射線(“指紋”)，這是這種特定元素所獨有的，這就是為什么XRF光譜是一種用于材料成分定性和定量分析的優秀技術。

         
　　x射線熒光應用廣泛包括:

　　火成巖、沉積和變質作用的巖石學研究
　　土壤調查
　　采礦(例如，測量礦石品位)
　　水泥生產
　　以及陶瓷和玻璃制造業
　　冶金(例如，質量控制)
　　環境研究(例如，空氣過濾器上的微粒分析)
　　石油工業(例如，原油和石油產品的硫含量)
　　地質研究中的現場分析(使用便攜式手持XRF光譜儀)
　　x射線熒光特別適合那些涉及巖石和沉積物中主要元素(硅、鈦、鋁、鐵、錳、鎂、鈣、鈉、鉀、磷)的整體化學分析。
　　對于微量元素(豐度>1 ppm鋇、鈰、鈷、鉻、銅、鎵、鑭、鈮、鎳、銣、鈧、鍶、銠、鈾、釩、釔、鋯、鋅)，巖石和沉積物中3354種微量元素的檢出限通常為百萬分之幾。
　　x射線熒光僅用于分析通常是相對較大的樣本
　　1克可制成粉末形式并有效均質化的材料
　　成分相似、特征明確的材料。
　　具有高豐度元素的材料的吸收和熒光效應是眾所周知的。


　　在大多數情況下，對于巖石、礦石、沉積物和礦物，樣品將被研磨成細粉。此時可以直接分析，尤其是微量元素分析的情況。但不同元素(尤其是鐵)的豐度范圍很廣，粉末樣品中晶粒的尺寸范圍很廣，與標準比的比較特別麻煩。為此，通常的做法是將粉末樣品與化學熔劑混合，然后使用熔爐或氣體燃燒器來熔化粉末樣品。熔化產生了均勻的玻璃，可以分析和計算元素的豐度(現在元素被稍微稀釋了)。