一.什么是x射線熒光光譜儀？
x射線熒光光譜儀是一種分析技術，可用于確定各種樣品類型（包括固體，液體，漿液和散粉）的化學成分。X射線熒光也用于確定層和涂層的厚度和組成。它可以分析從鈹（Be）到鈾（U）的元素，其濃度范圍從100 wt％到亞ppm級。


二、x射線熒光光譜儀背后的原理
x射線熒光光譜儀是一種原子發射方法，在這方面與光發射光譜，ICP和中子活化分析（γ光譜）相似。X射線管通過產生入射X射線（一次X射線），來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量或者波長。在x射線熒光光譜儀中，來自X射線管的主要X射線束照射會導致發出熒光X射線，而熒光X射線具有樣品中存在的元素的離散能量特征。


三、x射線熒光光譜儀分析的好處是什么？
XRF分析是一種可靠的技術，將高精度和高準確度與簡單，快速的樣品制備結合在一起。它可以很容易地實現自動化，以用于高通量工業環境，此外，x射線熒光光譜儀還可以提供有關樣品的定性和定量信息。x射線熒光光譜儀還可以使快速篩選分析。


四、元素組成的測定
用于樣品X射線熒光光譜的分離，鑒定和強度測量的技術產生了兩種主要類型的光譜儀：波長色散型和能量色散型。

      我們提供廣泛的x射線熒光光譜儀解決方案，用于分析各種材料和應用的元素組成，包括波長和能量色散解決方案。在下表中找到我們的解決方案產品組合：Nicolet 6700 傅立葉紅外光譜儀和能量色散型X射線熒光分析儀EDX-LE Plus