安捷倫 Agilent 7500 ICP-MS電感耦合等離子體質譜是一種新型的無機元素和同位素分析技術，可快速同時檢測周期表上幾乎所有元素。ICP-MS技術在分析能力上，超過傳統的無機分析技術如電感耦合等離子體光譜技術(ICPAES)、石墨爐原子吸收(GFAAS)和汞冷原子吸收技術(CVAAS)的總和，被稱為當代分析技術最激動人心的發展。

Agilent 7500 ICP-MS技術的應用領域包括：

最近，與分離技術聯用進行環境毒理、生命科學等領域的元素價態、形態分析成為ICP-MS技術應用的一個焦點。

安捷倫Agilent 7500 ICP-MS分析特性：

半導體工業常用材料中超痕量污染物分析

Agilent ICP-MS可直接分析有機樣品。

Agilent ICP-MS的高效能、高功率屏蔽矩冷等離子體技術已被用于測定一系列有機樣品的ppt級痕量污染元素。

對其中一些樣品，其他方法無法得到滿意的結果，高功率屏蔽矩冷等離子體技術是唯一的分析方法。

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